hlavní
Přístroj a měřič
Tvrdoměr Wilson VH3100
Fluorometry řady TA Discovery (DHR)
T1, TU1, T2, TU2 čistá měď spektrální vzorkování, čistá měď série BYG199101-199110 spektrální vzorkování
Japonsko Otsuka diferenciální tloušťka filmu OPTM SERIES
Japonský fluorescenční spektrometr ZSX Primus IV
Spectrometer SPECTRO příslušenství Quartz pouzdro Těžké kovy 48207009
Spectrometrické příslušenství SPECTRO Quartz pouzdro
Spectrometrické vzorkování lité hliníkové slitiny Spike A356 v Německu
Diferenční skenovací teploměr Discovery DSC ™
Japonský fluorescenční spektrometr ZSX Primus III+
Japonský fluorescenční spektrometr ZSX Primus
Japonský fluorescenční spektrometr Supermini 200 vlnových délek
SPECTRO-XEPOS polariza?ní rozptyleny rentgenovy fluorescen?ní spektrometr
Kompaktní přímý spektrometr SPECTROCHECK
Německo Spike Malé zaostřování polarizace energie rozptylu XRF (MIDEX)
Německý Spike polarizační energetický rozptyl XRF-iQ II
Wilson Rockwell 574 Rockovský tvrdoměr
Nízkolegovaná ocel spektrometr vzorky kontroly 45CrNiMoV různé druhy uhlíkové oceli vzorky
Japonská Otsuka limitní potenciál ELSZ-2000
USA TA diferenciální skenovací teploměr DSC
Úspěšná operace!