Testovací páska s rozlišením Siemens Star

Zkušební karta s rozlišením YE0133 se skládá z hvězdičky Siemens s 36 sektory s vertikální a vodorovnou mřížkou umístěnou na okraji zkušební karty. Mřížka má rozlišení 0,625 Lp / mm v pravém horním a levém dolním horním části a 1,25 Lp / mm v pravém dolním a levém horním části.

Zkušební karty jsou umístěny na fotokopiový papír s super citlivým stupněm. Fotografický papír má samolepicí fólii. Kromě toho je testovací karta připevněna k kartě o tloušťce 2 mm. Tato testovací mřížka je základem pro kontrolu kvality grafických systémů fotoaparátů, objektivů, mikrofilmů a rozšiřovacích zařízení.