Přísma &Přísma EXMultifunkční prostředí vakuové volframové dráty analýzy skenovací elektronový mikroskop

• Skutečně víceúčelový laboratorní skenovací elektronský mikroskop SEM s plným výkonem a snadným ovládáním
• S jedinečným ESEM ™ Environmentální vakuový režim
• Vysoké vakuum, nízké vakuum a ESEM ™ Environmentální vakuum Tři vakuové režimy, vhodné pro analýzu nejrozsáhlejších vzorků, rozsah vzorků zahrnuje elektricky vodivé materiály, neprovodivé materiály, odplynění, nepotížené nebo jiné vzorky, které nejsou použitelné pro vakuum.
• Řada integrovaných softwarů pro analýzu v reálném čase pro dokončení dynamických experimentálních detekčních analýz.
• Nízkovákuové a environmentální vakuum ESEM umožňuje testovací analýzy pro neprovodivé materiály a vzorky s daní
• Funkce in situ umožňuje získat spolehlivé výsledky analýzy i u izolovaných nebo vysokoteplotních vzorků.
• Kamery s navigací a funkcí SmartScanTM podporují přednastavení před skenováním a zvyšují produktivitu, kvalitu dat a splňují náročné požadavky na použití.
• Analýza na místě při teplotách od -165°C do 1400°C
• Zrychlení napětí: 200 V - 30 kV
• Elektronické zvětšení: 6x – 1,000,000x (lze zachytit a zobrazit čtyři obrázky současně)
• Detektor: Everhart-Thomley sekundární elektronový detektor s vysokým vakuovým režimem (E-T SED); nízkovakuové SE detektory (LVD); ESEM Environmental Vacuum Mode Gas Secondary Electronic Detector (GESD) - sekundární elektronní detektor plynu v vakuovém režimu prostředí Infračervená CCD kamera
• Vakuový systém: 1 turbomolekulární čerpadlo 250L / s, 1 rotační mechanické čerpadlo; Patentovaný tlakový vakuový systém "přes čočku"; Výfuková doba ≤3,5 min do vysokého vakua, ≤4,5 min do vakua ESEM / nízkého vakua; Volitelná CryoCleaner chladnička; Volitelný upgrade na bezolejové válcové / suché PVP
• Pokoj vzorků:

Vnitřní průměr 340 mm

Analýza pracovní vzdálenosti 10 mm

o 12 rozhraní pro příslušenství

Úhel sběru EDS: 35°

• Rozlišení:

高真空模式

• 3,0 nm @ 30 kV (SE)
• 4,0 nm @ 30 kV (BSE)*
• 8,0 nm @ 3 kV (SE)

Režim zpomalení při vysokém vakuu

• 7,0 nm při 3 kV

Nízký vakuový režim

• 3,0 nm @ 30 kV (SE)
• 4,0 nm @ 30 kV (BSE)
• 10 nm při 3 kV (SE)

• ESEM Environmental Vakuum
  • 3,0 nm @ 30 kV (SE)