Příprava vzorků pro TEM, SEM a LM

Leica EM RES102 je unikátní zařízení pro iontové broušení se dvěma iontovými zdroji v podobě sedla s nastavitelnou energií iontového paprsku pro optimální výsledky iontového broušení.

Toto samostatné stolní zařízení obsahuje možnosti přípravy vzorků TEM, SEM a LM, což je zcela odlišné od ostatních zařízení na trhu. Kromě vysokoenergetického iontového broušení

Kromě funkcí může být Leica EM RES102 použit i při extrémně mírném broušení iontových paprsků s nízkou energií.

› Jednostranné nebo dvoustranné broušení iontových paprsků je vhodné pro proces ředění iontových paprsků materiálů. Sedlový iontový zdroj může získat velké průhledné tenké oblasti elektronových paprsků.

Programově řízená změna úhlu vstupu iontů je vhodná pro dokončení speciálních účelů přípravy vzorku, například čištění vzorku FIB, aby se snížila amorfická nekrystalická vrstva.

› Leštění iontovým paprskem Maximální leštěná plocha je až 25 mm.

› Čištění iontovým paprskem je vhodné pro čištění vrstvy kontaminace povrchu vzorku nebo vrstvy nanášení vzniklé po mechanickém leštění povrchu.

› Zvýšení povrchové podložky vzorku, který může nahradit chemickou erozi.

› 35° svahové řezání se používá pro přípravu průřezů s více vrstvami vzorků.

› 90° svahové řezání se používá k přípravě vzorků polovodičů nebo montážních zařízení pro kompozitní konstrukce, což vyžaduje minimální mechanické předběžné zpracování.

- Záleží na vaší volbě.

Pro podporu různých požadavků aplikací může Leica EM RES102 montovat různé vzorkové stoly pro přípravu vzorků TEM, SEM a LM. Předčerpací místnost

Systém umožňuje rychlou výměnu vzorků, což účinně zvyšuje efektivitu výměny vzorků.

Tento vzorkový stůl je vhodný pro čištění, leštění a posilování podložky vzorků SEM a LM a může být použit při teplotě prostředí nebo při chlazení LN2. SEM vzorkový stůl

Vzorky lze připravit až do maximální velikosti 25 mm. Adaptér je určen k držení vzorkového sedadla SEM pro komerční výrobu se zástrčkou o průměru 3,1 mm.

Stol pro nakloněné řezání vzorků je vhodný pro řezání vzorků s podélným průřezem (90 °) nebo nakloněným průřezem (35 °), což umožňuje SEM sledovat vnitřní podélnou strukturu vzorku a může být použit při teplotě prostředí nebo při chlazení LN2. SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4 °.

Tenký vzorkový stůl se používá k držení vzorků o maximální velikosti 5 (H) × 7 (W) × 2 (D) mm. Vzorkovací stůl lze snadno přenést přímo do SEM bez nutnosti odebírat vzorek.

zboží.

TEM vzorkové klipy jsou použity pro jednostranné nebo oboustranné řízení iontových paprsků s úhlem řízení až do 4 °.

Umrazovací zařízení TEM se používá ve spojení s chladicím zařízením LN2 pro přípravu vzorků citlivých na teplotu.

Stol pro čištění vzorků FIB se používá k čištění vzorků FIB a snížení povrchových nemorformních nekrystalických vrstev.

Leica EM RES102 snižuje, čistí, řeze průřezy, leří a posiluje podložky vzorků, což výrazně uspokojuje vaše potřeby různorodosti a pohodlí aplikace.

Ovládací jednotka s 19" dotykovou obrazovkou pro monitorování a zaznamenávání vzorkování

› Vestavěná knihovna parametrů aplikací

› Programované nastavení parametrů vzorku pro urychlení křivky učení začátečníků

› Nápověda pro začátečníky a údržbu zařízení

Efektivní/úsporné

Funkce aplikací TEM, SEM a LM v jednom

› TEM vzorek přípravy dosahuje velké tenké oblasti, efektivně zvyšuje efektivitu přípravy vzorku TEM

› Příprava vzorků SEM až do průměru vzorku 25 mm

Systém předčerpání pomáhá rychle vyměňovat vzorky, zkracuje čekací dobu a zajišťuje trvalé vysoké vakuum ve vzorkové komoře

› Funkce místní sítě pro dálkové ovládání

› Vzorkovací stůl LN2 umožňuje iontové broušení vzorků citlivých na teplotu za optimalizovaných podmínek

Bezpečnost

› Přesné automatické ukončení pro optické ukončení nebo Faraday Cup ukončení průhledných vzorků

› Během vzorkování můžete čas od času ukládat živé obrázky nebo videa

› Pohon motoru pro iontové zdroje a vzorky s programovaným ovládáním pro opakované výsledky vzorkování