Mikroskop LeicaDM12000MPomocí optického principu se měřený vzorek umístí na pozorovací plošinu v mikroskopu a obraz vzorku se zvětší do mikroskopových brýlí odrážením nebo přenosem světla. Vzhledem k vlastnostem vzorku pro rozptýlení a absorpci světla se obrazové jevy vzorku při zobrazování neustále mění s změnou parametrů. Na základě těchto změn může pozorovatel posoudit mikrostrukturu a tkáně vzorku.

Charakteristiky mikroskopu Leica DM12000M:

Zcela nový optický design umožňuje rychlou první kontrolu v makro režimu a funkci nakloněné UV cesty (OUV, nakloněný UV pozorovací režim), což nejen zvyšuje rozlišení, ale také zvyšuje kapacitu kontroly 12palcových (300 mm) křemíkových ploch. Nová technologie osvětlení LED Integrovaný design a integrace do mikroskopu, nízké teplotní záření a technologie integrované do karoserie zajišťují ideální stav proudění vzduchu mimo karoserie.

Příslušenství k automatickému zaostřování pro přenosné osvětlení může sloužit se všemi způsoby pozorování reflexního osvětlení, včetně pozorování temného zorného pole a diferenciálního interferenčního pásu. Rychlé a přesné automatické zaostřování umožňuje přesné vyhledávání ostrosti v reálném čase i při změně pohledu.

Třetí, dva typy osvětlení jsou k dispozici, univerzální typ a vysoká hodnota otvoru typu. Pro kontrolu panelů FPD a MASK poskytuje vhodné osvětlení a může být vybaven polarizačním zrcadlem pro snadné polarizační pozorování projekčního světla. Vysoký kontrast, vyšší rozlišení, vyšší kontrola zvětšení Způsob fluorescenčního pozorování pro kontrolu reziduí fotogravury Modul fluorescenčního spektroskopu UV optický systém může poskytnout vyšší kontrast a rozlišení až do 0,12 μm.

K dispozici je řada fluorescenčních metod, jako je U.B.G., pro zbytky lepidla a kontrolu OLED. Pohodlné komunikační rozhraní pro ovládání a získávání parametrů zvětšení mikroskopu a světelné apendice otvoru RS232C pro vnitřní kontrolu oblouček a zařízení, dokonce i svařovacích nohou Standardní příslušenství pro pozorování blízkého infračerveného záření zahrnuje rozhraní RS232C, které umožňuje ovládání elektrické části mikroskopu pomocí PC a umožňuje práci několika mikroskopů na procesní linkě ve stejném nastaveném stavu.

5, včetně speciálních infračervených objektivů a dalších příslušenství, které opravují rozdíl od viditelného světla k blízkému infračervenému pásmu světla, pro hloubkové nebo vnitřní kontroly IC, které umožňují plnou kontrolu WAFER BUMP, automatické měřicí příslušenství pro širokou linku CD, které umožňuje vysoce přesné měření CD pomocí technologie subpixelů.

Nízká spotřeba energie výrazně prodlouží životnost a je v souladu s konceptem ekologické ochrany životního prostředí. Jedním kliknutím ovládací konstrukce umožňuje uživatelům snadno dokončit převod zvětšení a související osvětlení a obložení efekty.